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基于VIF特性分析的電路板故障診斷方法研究
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1.陸軍裝甲兵學(xué)院 兵器與控制系;2.陸軍裝甲兵學(xué)院 兵器與控制系

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Research on Circuit Board Fault Diagnosis Method Based on VIF Characterisic Analysis
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    摘要:

    VIF特性曲線(xiàn),即伏特-安培-頻率特性曲線(xiàn)。分立元件或集成芯片是電路板故障的最小可隔離單元,元器件的損壞或特性改變是電路板故障的最根本原因。針對元件參數獲取的問(wèn)題,采用基于VIF特性分析的方法,對常見(jiàn)元器件進(jìn)行了分析,并模擬了常見(jiàn)的故障模式,分析其VIF特性曲線(xiàn)特征,總結了各類(lèi)組合元件曲線(xiàn)變化規律,針對某型滅火抑爆系統電路板的容性故障和感性故障進(jìn)行了診斷,效果顯著(zhù)。

    Abstract:

    VIF characteristic curve, that is, volt-ampere-frequency characteristic curve. Discrete components or integrated chips are the smallest quarantinable unit for board failures, and component damage or characteristic changes are the most fundamental cause of board failure. According to the problem of component parameter acquisition, the method based on VIF characteristic analysis is used to analyze the common components, and the common fault modes are simulated. The characteristics of VIF characteristic curves are analyzed, and the curve of various combinations of components is summarized. The capacitive faults and inductive faults of the circuit board of the fire suppression and explosion suppression system were diagnosed and the effect was remarkable.

    參考文獻
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引用本文

李光升,歐博,安斌來(lái),魏寧.基于VIF特性分析的電路板故障診斷方法研究計算機測量與控制[J].,2020,28(7):14-18.

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  • 收稿日期:2019-09-24
  • 最后修改日期:2019-12-24
  • 錄用日期:2019-12-24
  • 在線(xiàn)發(fā)布日期: 2020-07-14
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