摘要:基于雷達等電子產(chǎn)品測試性要求的不斷提高,對產(chǎn)品進(jìn)行測試性設計迭代并進(jìn)行測試性驗證,成為對電子產(chǎn)品的普遍要求。由于初始設計有缺陷、覆蓋故障模式不全等引起測試性設計不能滿(mǎn)足要求,開(kāi)展閉環(huán)測試、脈沖檢測、隔離策略?xún)?yōu)化等測試性改進(jìn),最終選擇軟、硬件改進(jìn)相平衡的方案,通過(guò)回歸試驗,獲得滿(mǎn)足指標要求的檢測率和隔離率結果,優(yōu)化方法促進(jìn)了產(chǎn)品的測試性設計改進(jìn)和增長(cháng)。