摘要:NAND Flash固態(tài)存儲器(固存)廣泛應用于航天工程,受限于微電子特性及制造工藝,固存在出廠(chǎng)及使用過(guò)程中均會(huì )產(chǎn)生壞塊,通常由固存控制FPGA(現場(chǎng)可編程門(mén)陣列)來(lái)管理并標記壞塊]。為保證固存控制FPGA對壞塊管理的正確性、健壯性,必須對其進(jìn)行嚴格驗證。提出了基于VCS的固存壞塊仿真驗證系統,為固存控制FPGA提供了所需的外圍接口,特別是提供了固存壞塊反饋機制,令固存壞塊產(chǎn)生時(shí)機受控;實(shí)時(shí)向FPGA反饋固存讀寫(xiě)過(guò)程及產(chǎn)生的壞塊信息;將壞塊表建立、維護和固存響應過(guò)程記錄到數據文件;實(shí)現了壞塊分布的可配置性和仿真系統的閉環(huán)性、可記錄性。仿真系統可有效發(fā)現壞塊管理的設計缺陷,進(jìn)而優(yōu)化設計,提高航天固存產(chǎn)品可靠性。