摘要:為了解決機載鉑電阻測溫系統機上校準工作量大、實(shí)施難等問(wèn)題,根據機載鉑電阻測溫原理和校準方法,分析了對于單個(gè)測溫通道在實(shí)驗室與機載環(huán)境下測量結果之間的差異,提出了一種對實(shí)驗室校準曲線(xiàn)進(jìn)行修正而替代機上校準曲線(xiàn)的方法,并通過(guò)實(shí)驗對該方法進(jìn)行驗證;設計了根據機載測試系統的數據文件、系統配置文件,批量修正實(shí)驗室校準曲線(xiàn)的軟件;任意選擇的8個(gè)參數進(jìn)行工程驗證,采用原方法和本文方法進(jìn)行校準得到的兩組校準曲線(xiàn),分別對測試數據進(jìn)行處理,得到測量結果的最大偏差與量程比不超過(guò)0.27%,證明修正后實(shí)驗室校準曲線(xiàn)與機上校準曲線(xiàn)基本一致,可以用作數據處理;結果證明,改進(jìn)后校準方法方便、高效,校準結果滿(mǎn)足機載測試要求,為機載參數校準提供了新思路。