基于虛擬儀器測試環(huán)境的自動(dòng)測試程序設計

首頁(yè) > 過(guò)刊瀏覽>2014年第22卷第9期 >3061-3064

基于虛擬儀器測試環(huán)境的自動(dòng)測試程序設計
DOI:
                        
                    
CSTR:
                        [cstr]
                    
作者:
                        
                        
                    
作者單位:(中國人民解放軍93325部隊,沈陽(yáng) 110141)
作者簡(jiǎn)介:周慶黨(1971-),男,遼寧沈陽(yáng)人,工程師,主要從事自動(dòng)測試技術(shù)、裝備保障技術(shù)等方向的研究。[FQ)]
通訊作者:
中圖分類(lèi)號:TN407
基金項目:

Design of Auto Test Program Based on Virtual Instrument Test Environment

Author:

Affiliation:

(PLA of unit 93325,Shenyang 110141,China)

Fund Project:

摘要

圖/表

訪(fǎng)問(wèn)統計

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文章評論

摘要:

現代軍事裝備大量采用了超大規模集成電路,傳統功能測試方法難以為繼,如何解決超大規模集成電路的測試問(wèn)題,對現代軍事裝備的維修保障具有重要意義;針對此類(lèi)問(wèn)題,基于虛擬儀器測試環(huán)境,以邊界掃描測試為主,以少量功能測試為輔,設計開(kāi)發(fā)了某型電路板的測試程序,解決了總線(xiàn)競爭、Flash測試和數/模器件測試等問(wèn)題,通過(guò)多次模擬試驗,定位了故障節點(diǎn),證明了該測試程序故障覆蓋率高、測試速度快以及診斷精度高,實(shí)現了被測板超大規模集成電路的測試,為同類(lèi)板件測試程序的開(kāi)發(fā)提供了參考,具有一定的軍事和經(jīng)濟效益。

Abstract:

Modern military equipment adopt lots of super large scale integrate circuit. Conventional function test is hard to test. It is significance for equipment maintenance. A test programme is designed for a circuit based on Virtual Instrument Test Environment. This test programme mainly contains boundary scan test and functional test. The bus conflict, FLASH test and digital/analog device test problem are solved. The test programme is reliable , fast and precise by lots of simulation. It is a good reference for designing the similar circuit. There is some military and economic benefits.

參考文獻

相似文獻

引證文獻

引用本文

周慶黨,王健,王永江,山麟童.基于虛擬儀器測試環(huán)境的自動(dòng)測試程序設計計算機測量與控制[J].,2014,22(9):3061-3064.

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歷史

收稿日期:2014-04-02
最后修改日期:2014-05-06
錄用日期:
在線(xiàn)發(fā)布日期: 2014-12-18
出版日期:

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