基于邊界掃描技術(shù)和TCL語(yǔ)言的簇測試設計

首頁(yè) > 過(guò)刊瀏覽>2014年第22卷第9期 >2749-2751

基于邊界掃描技術(shù)和TCL語(yǔ)言的簇測試設計
DOI:
                        
                    
CSTR:
                        [cstr]
                    
作者:
                        
                        
                    
作者單位:(桂林電子科技大學(xué) 電子工程與自動(dòng)化學(xué)院,廣西 桂林 541004)
作者簡(jiǎn)介:胡 曉(1988-),女,重慶人,工學(xué)碩士,主要從事計算機輔助測試等方面的研究。[FQ)]
通訊作者:
中圖分類(lèi)號:TP23
基金項目:國家自然科學(xué)基金項目(61102012)。

Design of Cluster Test Based on Boundary Scan Technology and TCL Language[JZ)]

Author:

Affiliation:

(School of Electronic Engineering and Automation, Guilin University of Electronic Technology, Guilin 541004, China) 

Fund Project:

摘要

圖/表

訪(fǎng)問(wèn)統計

參考文獻

相似文獻

引證文獻

資源附件

文章評論

摘要:

在邊界掃描測試技術(shù)中,由BS器件和非BS器件主成的邏輯簇測試是研究的難點(diǎn)問(wèn)題,文章介紹了高效、簡(jiǎn)明、移植性好的TCL語(yǔ)言,在深入研究邊界掃描簇測試原理的基礎上,以實(shí)現邏輯簇測試為目的,采用了TCL嵌入C++的方法實(shí)現測試用例的腳本化,完成了基于TCL語(yǔ)言的Cluster測試腳本設計；通過(guò)對數字電路實(shí)驗板的測試結果分析,得到了使用TCL腳本語(yǔ)言與C++聯(lián)合編程能夠實(shí)現簇測試,并且可以提高邊界掃描測試軟件工作效率的結論,具有較好的應用前景。

Abstract:

In the boundary scan test technology, the BS device and non-BS device components into logic cluster test is the difficult problem in the study. This paper introduces TCL language which has high efficient and good portability, and take cluster test as an example, introduced the application of TCL language based on boundary scan technology.Through the test validation, the use of TCL script language with C++ programming can improve the work efficiency of boundary scan test software, has a good application prospect.

參考文獻

相似文獻

引證文獻

引用本文

胡曉,談恩民,陳壽宏,尚玉玲.基于邊界掃描技術(shù)和TCL語(yǔ)言的簇測試設計計算機測量與控制[J].,2014,22(9):2749-2751.

復制

文章指標

點(diǎn)擊次數:
下載次數:
HTML閱讀次數:
引用次數:

歷史

收稿日期:2014-04-10
最后修改日期:2014-05-10
錄用日期:
在線(xiàn)發(fā)布日期: 2014-12-18
出版日期:

国产欧美精品一区二区,中文字幕专区在线亚洲,国产精品美女网站在线观看,艾秋果冻传媒2021精品,在线免费一区二区,久久久久久青草大香综合精品,日韩美aaa特级毛片,欧美成人精品午夜免费影视

引用本文

分享

文章指標

歷史

文章二維碼