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基于DSP和LabVIEW的1553B總線(xiàn)芯片測試系統的設計與實(shí)現
DOI:
CSTR:
作者:
作者單位:

(1.長(cháng)江大學(xué) 電子信息學(xué)院, 湖北 荊州 434023;;2.武漢海泰中測電子有限責任公司, 武漢 430073)

作者簡(jiǎn)介:

孫先松(1968-),男,湖北荊州人,工學(xué)碩士,副教授,主要從事嵌入式應用和電子測試技術(shù)方向的研究。[FQ)]

通訊作者:

中圖分類(lèi)號:

TP23

基金項目:


Design and Implementation of 1553B Bus Chip Test SystemBased on DSP and LabVIEW[HS)]
Author:
Affiliation:

(1.School of Electronics and Information,Yangtze University,Jingzhou 434020,China; ;2.Wuhan Haitai Zhongce Electronic Co., Ltd.Wuhan 430073,China)

Fund Project:

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    摘要:

    B芯片測試系統由上位機和下位機兩部分構成,下位機是用兩片DSP芯片作為控制芯片構建兩個(gè)1553B總線(xiàn)的終端,上位機在計算機上用LabVIEW平臺控制一塊1553B的總線(xiàn)板卡,并且通過(guò)串口發(fā)送各種測試命令給下位機,共同完成對DDC公司的BU-61580系列芯片的內部功能、總線(xiàn)協(xié)議功能及電氣特性測試,對被測芯片處于BC、RT、MT三種不同類(lèi)型終端時(shí)的各種功能與時(shí)序進(jìn)行直觀(guān)顯示;測試環(huán)境與芯片在實(shí)際運用中效果一樣,可以對芯片進(jìn)行篩選,成本低;通過(guò)在某單位實(shí)際應用表明,該測試系統具有測試簡(jiǎn)單、功能全面、性能穩定的特點(diǎn),系統還可自檢,滿(mǎn)足了用戶(hù)的要求。

    Abstract:

    B bus chip test system is composed of upper and lower computer. The lower computer with two DSP chip as the control chip build two 1553B bus type terminals. The upper computer depend on controlling 1553B bus card with LabVIEW platform, and send various test commands through the serial port. common to complete the DDC's BU-61580 series chip's internal functions, bus protocol function and electrical characteristics test, display various function and timing of the chip test BC,RT, MT three different types terminals. Test environment is same as the chip results in practical use, the chip can be screened, low cost. By the actual application showed that the test system has tested a simple, full-featured, stable performance characteristics, the system can self-test, to meet the user's requirements.

    參考文獻
    相似文獻
    引證文獻
引用本文

孫先松,王魯濤.基于DSP和LabVIEW的1553B總線(xiàn)芯片測試系統的設計與實(shí)現計算機測量與控制[J].,2014,22(8):2412-2414,2418.

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歷史
  • 收稿日期:2013-12-19
  • 最后修改日期:2014-03-04
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  • 在線(xiàn)發(fā)布日期: 2014-12-16
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